سورنا فایل

مرجع دانلود فایل ,تحقیق , پروژه , پایان نامه , فایل فلش گوشی

سورنا فایل

مرجع دانلود فایل ,تحقیق , پروژه , پایان نامه , فایل فلش گوشی

آموزش حل تست های ریاضی با ماشین حساب

اختصاصی از سورنا فایل آموزش حل تست های ریاضی با ماشین حساب دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

آموزش حل تست های ریاضی با ماشین حساب


حل تست های ریاضی با ماشین حساب

بهترین و کامل ترین جزوه موجود در کشور برای حل تست های ریاضی با ماشین حساب

تنها با استفاده از ماشین حساب های معمولی که توسط سازمان سنجش مجاز اعلام می شوند

بدون هیچ مطالعه و آمادگی ، با خواندن این جزوه  ی 48 صفحه ای می توانید تست های ریاضیات کنکورهایتان را تا 80 درصد پاسخ دهید.

قابل استفاده در کنکورهای کاردانی ، کارشناسی ، کارشناسی ارشد، آزمون های علمی و هر نوع آزمونی که استفاده از ماشین حساب در آن مجاز باشد.

محتوای جزوه : تکنیک حل تست های تابع و مقدمات ، تست های محساباتی و پارامتری ، حد ، انواع سوالات مشتق و کاربردهای آن و هم چنین انواع سوالات انتگرال و کاربردهای آن ... با ماشین حساب

تالیف شده توسط مهندس مجتبی وفا برترین مدرس زمینه حل تست با ماشین حساب در کشور

با فرمت پی دی اف به صورت دستنویس 


دانلود با لینک مستقیم


آموزش حل تست های ریاضی با ماشین حساب

تحقیق و بررسی در مورد آزمایش تست دیود

اختصاصی از سورنا فایل تحقیق و بررسی در مورد آزمایش تست دیود دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

فرمت فایل word  و قابل ویرایش و پرینت

تعداد صفحات: 7

 

آزمایش تست دیود

وسایل مورد نیاز : یک منبع متناوب با فرکانسHz50 ، یک عدد مقاومت 1 k اهم و یک مقاومت 1000k اهم و دیود برد بورد .

هدف از این آزمایش تست کردن دیود می باشد و قسمتی که مقاومت بیشتری را نشان می دهد کاترو قسمت دیگر آن را است .

نکته : در زمان هدایت دیود اتصال کوتاه می باشد .

مدار را مانند شکل مقابل روی برد بورد نصب کرد و توسط قانون KVL و VS را بدست می آوریم

KVL = VS + 100 ID + VD = 0

VS = 100 ID + VD

VS = 100 ID

در مرحله دوم مقاومت 1 k اهم را از مدار جدا کرده و دوباره VS را بدست می آوریم .ولی به منبع DC وصل می کنیم .

VR = 100 IS IS = ID = =

KVL= VS + VR+ VD = 0

VS = VR + VD

VS = 100IS + VD

8

6

4

2

VS

800

600

400

200

VR

15،6

25

50

ID

آزمایش اندازه گیری ولتاژ جریان پر مقاومت

وسایل مورد نیاز : یک مقاومت 10K اهم و یک منبع DC 10V و دو عدد مقاومت 1 K اهم و ولتی متر .

نکته قابل توجه در این آزمایش داغ شدن مقاومت 1 K اهم می باشد دلیل این اتفاق این است که چون مقاومت به صورت موازی با منبع قرار دارد مثل یک مقاومت سری با منبع عمل می کند و به همین دلیل جریان زیاد می کشد که این عمل باعث داغ شدن آن می شود .

برای اینجام این آزمایش در ابتدا جریان کل ولتاژ ها را بدست می آوریم سپس توسط یک مولتی متر جواب ها را با هم مقایسه می کنیم .

IEJ = = 0.95 ( MA )

V2 = V3 0.5 × 103 × 0.95 × 10-3 ~ 0.47 (V )

V2 = 10 × 103 × 0.95 × 10-3 = 9.5 ( V )

L2 = = = 0.47 ( MA )

I3 = = = 0.47 ( MA )

KCL : I1 = I2 + I3 = 0.47MA + 0.47MA = 0.95MA

 

V10K = 9.57 V1K = 0.47

I10K = 0.93 MA I1K = 0.46 MA

V1K = 0.47

I1K = 0.47

آزمایش استفاده از دیود زنر به عنوان رگولاتور

وسایل مورد نیاز : منبع DC ، مقاومت 470 اهم ، دیود زنر ، برد بورد و مولتی متر

ابتدا مدار فوق را بر روی برد بورد نصب می کنیم و سپس ولتاژ DC را به صورت متناوب تا 30V بالا می بریم و عملکرد زنر را به عنوان تثبیت کننده ولتاژ خوبی مشاهده می کنیم . این عملکرد را توسط مولتی متر اندازه گیری می کنیم .

30

25

20

14

12

10

5

VS

5.74

5.69

5.63

5.51

5.33

4.89

2.52

V0

MA

0.2

0.02A

0.05A

0.10A

0.17A

0.29A

0.43A

I

هدف : دراین آزمایش هدف این است که مقادیر ولتاژ و جریان را که از مقاومت عبور می کند بدست آوریم .

بعد از بستن مدار روی برد بورد و اندازه گیری ولتاژ و جریان مقاومت ها مقادیر زیر بدست می آید .

V1K = 15 V1K = 1.23

I1K = 1.2 MA I1K =

V10K = 13.88 V10K = 1.23

I10K = 1.2 MA I10K =

بدلیل موازی بودن با مقاومت 1 K اهم ولتاژ برابر است .

نکته : عیبی که این مدار دارد عبور جریان زیاد از مقاومت 1 K اهم و داغ شدن به دلیل کم بودن با مقدار آن می باشد .


دانلود با لینک مستقیم


تحقیق و بررسی در مورد آزمایش تست دیود

تست های غیر مخرب Non Destructive Testing (N.D.T)

اختصاصی از سورنا فایل تست های غیر مخرب Non Destructive Testing (N.D.T) دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

تست های غیر مخرب Non Destructive Testing (N.D.T)


تست های غیر مخرب                Non Destructive Testing (N.D.T)

مقالات  شیمی  با فرمت           DOC           صفحات  4

آزمونهای غیر مخرب : به سلسله آزما یشهایی اطلاق می گردد که انجام آنها بر روی قطعه با عث تخریب قطعه نمی گردد .

آزمون های مخرب : کلیه آزمایشهای مکانیکی (کشش، فشار، ضربه . . .).

آزمون های غیر مخرب:1- بازرسی چشمی      Visualin Spection . 2- آزمایش مایع نافذ   Test Penetration  Liquid . 3-آزمایش ذرات مغناطیسی  Magnetic particle test  . 4- آزمایش ماوراء صوت Ultrasonic Test .5- آزمایش رادیو گرافی با اشعه   Radio Graphic Test(X-Ray)

بازرسی چشمی:    

مزایا: 1-ارزان ترین و ساده ترین روش .2- این روش را در طی تمامی مراحل تولید بکارمی گیریم   .QC3-روش مناسب N.D.T.  را به کمک این روش تعیین می شود . 4-بیشتر برای عیوب سطحی می باشد(باچشم مسلح یا غیر مسلح)

محدودیت ها: 1-عیوب زیر سطحی قابل شناسایی نمی باشد . 2-بکار گیری به تجربه شخص بستگی دارد . 3- در صورت غفلت بازرس خطا زیاد است .


دانلود با لینک مستقیم


تست های غیر مخرب Non Destructive Testing (N.D.T)

آموزش فارسی سازی گوشی هوآوی y511-u10 کاملا تست شده

اختصاصی از سورنا فایل آموزش فارسی سازی گوشی هوآوی y511-u10 کاملا تست شده دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

آموزش فارسی سازی گوشی هوآوی y511-u10 کاملا تست شده


آموزش فارسی سازی گوشی هوآوی y511-u10  کاملا تست شده

موضوع :

آموزش فارسی سازی گوشی هوآوی y511-u10  کاملا تست شده 

در این پست شیوه فارسی سازی این مدل را به همراه فایلهای مورد نیاز برایتان قرار داده ایم 

تست شده و کاملا سالم 

میتوانید این آموزش کمیاب را به همراه فایلهای مورد نیاز از طریق لینک مستقیم دانلود نمایید


دانلود با لینک مستقیم


آموزش فارسی سازی گوشی هوآوی y511-u10 کاملا تست شده